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 Una colaboración entre la Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Minas y Energía (ETSIME) de la Universidad Politécnica de Madrid y la University of Central Florida (UCF) ha hecho posible una nueva técnica que permite determinar la densidad de defectos en nanomateriales bidimensionales, como el grafeno, gracias a medidas de los cambios en la coherencia espacial de la luz que incide sobre ellos.

El estudio, en el que ha participado el profesor Félix Salazar Bloise, demuestra que existe una relación entre las propiedades estructurales del grafeno y las de la luz. Para lo cual se ha empleado una monocapa de grafeno, demostrando que las propiedades relativas a la coherencia espacial de la luz en las proximidades de una superficie iluminada con campos electromagnéticos aleatorios, se ve notablemente afectada por la densidad de defectos en la red cristalina de este material.

La interacción entre la luz y la materia es un campo de investigación importante dentro de las ciencias de los materiales, debido a la cantidad de aplicaciones que posee. En particular, la capacidad de controlar la interacción luz-materia en una escala por debajo de la longitud de onda de la radiación electromagnética empleada en un experimento tiene unas consecuencias muy importantes en la ciencia de nanomateriales y en tecnologías fotónicas.

En cualquier proceso de producción la calidad del producto es fundamental, por lo que la exactitud de la pureza de las muestras que se producen resulta indispensable de cara a su posterior puesta en el mercado tecnológico. Las ciencias de los materiales cuentan con una amplia gama de productos específicos para cubrir cualquier necesidad relacionada la metodología fiable para el control de procesos de producción de, por ejemplo, las láminas bidimensionales.

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