Compact SIMS instrument optimised for depth profiling at the nanometer scale

Compact SIMS de Hiden Analytical está diseñado para una rápida y fácil caracterización de estructuras de capa, contaminación de la superficie e impurezas con detección sensible de iones positivos, asistidos por el haz de ión primario de oxígeno.

Proporciona una sensibilidad isotópica en toda la tabla periódica.

La geometría del cañón de iones es idónea para la resolución de la profundidad del nanómetro y el análisis cerca de la superficie.

Descripción

Hiden Analytical logo

Compact SIMS – Sistema compacto optimizado para el estudio nanoscópico de la profundidad de muestra y su composición.

Su carrusel giratorio permite cargar 10 muestras simultáneamente para medirlas en la cámara de vacío de bombeo seco.

Dispone de una huella pequeña y es excepcionalmente intuitivo. Cuenta con el mismo software de control y sistema de cañón de iones que ofrece la familia de estaciones de trabajo Hiden SIMS, que proporciona perfiles de profundidad, imágenes en 3D y 2D y datos espectrales de masas.

El detector MAXIM-600P se basa en el filtro de masas cuadrupolar triple de Hiden de 6 mm con detección de iones de pulso.

Una opción de cañón de electrones está disponible para el análisis de muestras aislantes.

Además de SIMS, el Compact SIMS dispone de una instalación de SNMS, que es útil para la cuantificación de elementos de alta concentración, como aleaciones.

Características

  • Small footprint.
  • Interfaz intuitiva.
  • Sólo requiere alimentación eléctrica monofásica (bajo 10A).
  • Carro con ruedas.
  • SIMS positivo y SNMS.
  • Perfilado de profundidad.
  • Caracterización e imagen 3D.
  • Espectrometría de masas.
  • Análisis a escala nanométrica.

Aplicaciones

  • Células solares.
  • Revestimientos de vídrio.
  • Películas delgadas metálicas.

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