EQS SIMS Analyzer of secondary positive and negative ions from solid samples

EQS de Hiden Analytical es espectrómetro de masas cuadrupolar de iones secundarios de alta transmisión, SIMS.

Incluye un sector electrostático de 45 grados para el análisis simultáneo de energía iónica.

Descripción

Hiden Analytical logo

EQS SIMS – Espectrómetro cuadrupolar para SIMS de iones secundarios +ve y -ve procedentes de muestras sólidas.

Los iones se recolectan en el eje del dispositivo, lo que convierte al EQS en un equipamiento idóneo para detecciones de postventa en una amplia variedad de instrumentación para analizar superficies.

El EQS también puede usarse para la detección de neutros pulverizados.

Características

  • Detector de recuento de iones de pulso de alta sensibilidad con rango dinámico de 7 décadas
  • Raster control para obtener una imagen y perfil de profundidad mejorados con control de señales integrado.
  • Analizador del sector electrostático a 45º. Escanea energía a 0,05 eV en incrementos /0,25 eV FWHM.
  • Perturbación mínima de la trayectoria de vuelo iónico y transmisión constante de iones en todas las energías.
  • Triple filtro cuadrupolar. Opciones de masa a 5000 amu.
  • Penning Gauge y dispositivos de bloqueo como protección contra la sobreimpresión.
  • Opción de bombeo diferencial para su uso en entornos de alta presión.
  • Control MASsoft a través de RS232, RS485 o Ethernet LAN.
  • Se conecta fácilmente a los sistemas existentes.

Aplicaciones

  • Análisis de superficies.
  • Películas finas e ingeniería de superficies.
  • Catálisis.
  • Ciencia de superficies.

Valoraciones

No hay valoraciones aún.

Solo los usuarios registrados que hayan comprado este producto pueden hacer una valoración.