SIMS Workstation, UHV SIMS instrument for thin film surface analysis, static SIMS, depth profiling, and imaging

La estación de trabajo SIMS de Hiden Analytical proporciona aplicaciones SIMS estáticas y dinámicas de alto rendimiento para el análisis detallado de la composición de superficies y el perfilado de profundidades.

Descripción

Hiden Analytical logo

Estación de trabajo SIMS – UHV SIMS para analizar superficies, SIMS estático, perfil de profundidad e imagen.

La instalación SNMS complementa la técnica SIMS, que proporciona la cuantificación para las mediciones de la composición de películas delgadas.

La nueva tarjeta SIMS-on-a-Flange de Hiden proporciona una instalación SIMS completa en una sola brida tipo UHV (ultraalto vacío).

Características

  • El analizador MAXIM SIMS de Hiden funciona con MASsoft 7 Professional para el análisis de ppb.
  • Ionizador integrado para un análisis eficiente de SNMS.
  • Elección de fuentes de excitación primaria bombeadas diferencialmente.
  • Cañón de gas IG20, cesio IG5C, IFG200 FAB o galio líquido de alto rendimiento.
  • Control de ráster de cañón de iones integral con activación de señal para perfilado de profundidad.
  • Opción de cañón de inundación de electrones para neutralizar la carga en estudios aislantes.
  • Calefactores de cámara de vacío.
  • Transferencia de muestra rápida, soporte de muestras y manipulador con bloqueo de carga.
  • Manipulador UHV para posicionamiento óptimo de la muestra.
  • Opción de imágenes elementales SIMS con el programa ESM LabVIEW SIMS Imaging.
  • Estático SIMS Spectral Library disponible.
  • Sintonización automática de lentes ópticas SIMS.
  • Alineación masiva automática para un rendimiento óptimo de SIMS.

Aplicaciones

  • Análisis de superficies.
  • Películas delgadas e ingeniería de superficies.
  • Ciencia de superficies.
  • Nanotecnología.
  • Pilas de combustible.

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